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    全光谱椭圆偏光测厚仪

    应用于半导体行业:

    半导体测试设备-测厚设备

    库       存:

    5

    产       地:

    中国-上海市

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-测厚设备

    高质量之光学与电动组件,无需防震桌
    可搭配反射仪使用,可于日后Upgrade (优势)
    可量测透明基板,无需背后处理 (优势)
    可Upgrade为 in live量测设备 (优势) 采用进口光谱仪,冷却到零下15℃,精度高,速度快,讯噪比较非冷却的传统光
    谱仪,可提升256倍之多 (目前业界唯一)
    使用步进马达并非Rotating Polarizer,避免马达损坏 (目前业界唯一)
    固定量测角度-70度,可避移动时所造成的量测误差与机械损害 (所有光学仪器
    都应减少移动)
    可远程遥控,很好的协助客户评估设备以及提高售后的效率 (目前业界唯一)
    拥有强大的材料分析数据库,建立或更改一个测量Recipe非常轻松。只需按
    照名称选取材料,就能够更改基底、环境和膜层的光学常数。 通过比较测量
    结果和材料的理论光学常数,能够评价膜层的质量 (优势)
    客制化制作,依据客户的样品尺寸提供多种设备规格以供选择 (优势)

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    提问:
     

    分度值多少? 测量精度和测量头直径多高?

    peert  2017-08-09

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