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    OKOS超声波扫描显微镜

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    1

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    全国

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    品牌:

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-显微镜分类-扫描显微镜

     特点
    超声扫描显微镜是全球最新一代的超声测试设备,可在生产线中用手工扫描方法来检测器件的缺陷等。该设备可利用不同材料对超声波声阻抗不同,对声波的吸收和反射程度不同,来探测半导体、元器件的结构、缺陷、对材料做定性分析。先进的声学显微成像( AMI )的技术是诸多行业领域在各类样品中检查和寻找瑕疵的重要手段。在检查材料本身或粘结层之间必须保持完整的样品时,这项技术的优势尤为突出。
    VUE 400-P (1500 mm/s, +/- 0.5 micron, 380 mm)
    VUE 250-P (500 mm/s, +/- 1.0 micron, 250 mm)
    主要应用: 
    该系统功能是专门为半导体电子中的模塑设计的,可以完美的检测如下次要缺陷:
    .封装裂纹
    .分层
    .裸片裂纹
    .树脂里的孔洞
    .裸片粘附差
    .引线键合差
    .该系统的特征是3D成像、实时3D成像、A-扫描、B-扫描、C-扫描、T-扫描和S-成像
     

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