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    存储器高温动态老化测试系统

    产品品牌

    杭州高坤电子

    发货期限:

    6~8周天

    库       存:

    1

    产       地:

    中国-浙江省

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:杭州高坤电子

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-寿命测试设备-环境模拟设备

    符合MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等试验标准要求;
    系统适用于各种封装形式的SRAM,DRAM,SDRAM ,FLASH,DDR,RDRAM等器件进行高温动态老化筛选,并且在老化过程中对被试验器件(DUT)进行功能测试(TDBI);
    一板一区,可满足16种不同试验参数的器件同时老化;可根据用户的需求,定制各种老化板及测试程序;
    PH-201大容量高温试验箱一台;
    内箱尺寸:60cm×60cm×60cm,水平风道设计;
    16个 试验区域(一板一区),每个试验通道为24的整数倍,以8位存储器为例,老化测试工位最多可达到24×8=192片,整机可到达192×16=3072片;
    标配8台12V/80A程控数字电源;试验电源过压、欠压、过流、短路和过热等保护功能,确保试验电源的可靠性;
    计算机实时检测并记录电源的输出电压、电流,便于试验监控;工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标,WINDOWS操作界面,友好的人机对话窗口, 强大的图形编辑能力以及强大的器件库供用户选择,软件操作简单易学,更有系统查询诊断功能, 试验状况一目了然,方便用户随时查验;
    多达几百种按军标要求设计的老化试验板供用户选择,各种基板和老化座均耐高温、抗氧化、耐疲劳;
    供电电源:单相AC220V±10%,47Hz~63Hz,6KW;外形尺寸:W1360mmхH1820mmхD1320mm;重量:约500kg 。

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