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    FM/060-LP激光平面干涉仪 FM/060-LP

    产品品牌

    MCF

    库       存:

    1000

    产       地:

    中国-北京市

    数       量:

    减少 增加

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    品牌:MCF

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-表面、内部检测-表面形貌检测

     

    品牌:MCF

    型号:FM/060-LP激光平面干涉仪

    原理:斐索干涉仪是一种原理为等厚干涉,用以检测光学元件的面形、光学镜头的波面像差以及光学材料均匀性等的精密仪器。其测量精度一般为1/101/100,为检测用光源的平均波长。

    功能:平面光学元件表面面型测量      
         技术参数

    测量方式:斐索干涉原理 

    通光口径:60mm   

    测试波长:635nm(半导体激光器)

    对准方式:简单两点对准      

    对准视场:±0.5              

    平面标准镜精度:PVλ/20      


    产品图片:

                      1.1

    产品特点:

    1.     结构紧凑,小型化;

    2.     防尘效果好;

    3.     具有不损伤被测物品、测试精度高、测量时间短;

    4.     激光干涉仪的光源——激光,具有高强度、高度方向性、空间同调性、窄带宽和高度单色性等优点;

    5.     激光干涉仪可配合各种折射镜、反射镜等来使用;

    6.     激光干涉仪测量范围大、分辨率高等。

     应用范围:科学研究、精密器件加工及光学零件测试等领域的广泛应用。

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