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    FM/060-LP/LS激光球面干涉仪

    应用于半导体行业:

    半导体测试设备-光学类测试-干涉仪

    产品品牌

    MCF

    库       存:

    1000

    产       地:

    中国-北京市

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

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    品牌:MCF

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-光学类测试-干涉仪


    品牌:MCF
    型号:FM/060-LP/LS激光球面干涉仪 
    原理:斐索干涉仪是一种原理为等厚干涉,用以检测光学元件的面形、光学镜头的波面像差以及光学材料均匀性等的精密仪器。其测量精度一般为1/10~1/100,为检测用光源的平均波长。
    功能:各类透镜,球面反射镜的光学表面面型测量
               平面光学元件表面面型测量
    技术参数/General specifications:
    测量方式:斐索干涉原理 
    通光口径:30mm   
    测试波长:635nm(半导体激光器) 
    对准方式:简单两点对准               
    对准视场:±0.5度                 
    平面标准镜精度:PV:λ/20   
    球面标准镜精度:PV:λ/10    
    产品图片:
     

                                    

     


    特点/ Features:

    1.   立式结构,小型化
           2.   操作方便,使用简单
           3.   具有不损伤被测物品、测试精度高、测量时间短;
           4.   激光干涉仪的光源——激光,具有高强度、高度方向性、空间同调性、窄带宽和高度单色性等优点;
           5.   激光干涉仪可配合各种折射镜、反射镜等来使用;
           6.   激光干涉仪测量范围大、分辨率高等。

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