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    NCTG5 精密非接触式测厚仪

    库       存:

    1

    产       地:

    英国

    数       量:

    减少 增加

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    品牌:

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-测厚设备-非接触式测厚仪

     NCTG5 精密非接触式测厚仪原理:
    测厚仪配置的测量探针将压缩氮气垂直向下吹向被测量的样品表面,在样品表面上形成稳定气膜,可以不接触样品表面进行厚度测量,并通过数字显示系统显示出所测得样品的厚度数值。

    NCTG5 精密非接触式测厚仪是一款高性能高精密的测量仪器,可以不接触样品表面进行厚度测量。这种方式可以避免接触测量引起的表面损伤,特别适用于软脆材料及对样品表面质量高要求的测量。该仪器能非常理想的用于半导体、光学及电光材料处理等的测量应用。

    NCTG5 精密非接触式测厚仪技术参数
    测量臂带细调功能
    测量范围:180毫米
    测量精度:1微米
    读数精度:0.1微米
    重复误差:优于±1um
    测量样品尺寸:8英寸及以下尺寸。

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