型号:SS-200 
 亚微米电路/射频测试针座
 特点
 亚微米工艺集成电路电路测试
 线性，无后座力移动
 可以配合同轴/三轴探针夹具使用
 夹具可以30度范围倾仰
 可以使用钨探针
 可以配置为东/南/西/北四个方向的射频针座
 射频测试能力：直流到 40GHz ~ 120GHz
 多脚探头测试范围：直流到40GHz 或者 67Ghz
 可以配合使用校准片和校准软件
 探头接口和线缆45度连接，无需L型转接头
 探头可以拆卸维修
 射频测试线固定装置
 规格
 X-Y-Z方向行程 12mm x 12mm x 12mm
 线性移动
 丝杠精度 200 Thread / Inch
 移动精度 0.35 微米
 尺寸
 100mm长 x 140mm宽 x 100mm高
 重 1100 克

 型号:SS-100
 亚微米电路/射频测试针座
 特点
 亚微米工艺集成电路电路测试
 线性，无后座力移动
 可以配合同轴/三轴探针夹具使用
 夹具可以30度范围倾仰
 可以使用钨探针
 可以配置为东/南/西/北四个方向的射频针座
 射频测试能力：直流到 40GHz ~ 120GHz
 多脚探头测试范围：直流到40GHz 或者 67Ghz
 可以配合使用校准片和校准软件
 探头接口和线缆45度连接，无需L型转接头
 探头可以拆卸维修
 带射频测试线固定装置
 规格
 X-Y-Z方向行程 12mm x 12mm x 12mm
 线性移动
 丝杠精度 100 Thread / Inch
 移动精度 0.7 微米
 尺寸 90mm长 x 130mm宽 x 90mm高
 重1000 克

 型号:SS-80
 电路/射频测试针座
  特点
 线性移动
 I/O Pad 点测
 电路点测
 射频测试
 较小的体积
 可以配合同轴/三轴探针夹具使用
 规格
 X-Y-Z移动行程 12mm x 12mm x 12mm
 线性移动
 丝杠精度 80 Thread / Inch
 移动精度 5 微米
 尺寸  52mm宽 x 96mm长 x 76mm高
 重 550 克

 型号:SS-40
 I/O Pad /Electro-Optics光电测试针座
 特点
 价格实惠
 线性移动
 I/O Pad 点测
 光电器件点测
 体积小
 可以配合同轴/三轴探针夹具使用
 规格
 移动行程 12mm x 12mm x 12mm 
 线性移动
 丝杠精度 40 Thread / Inch
 移动精度 10 微米
 尺寸 38mm宽x 62mm长 x 45mm高
 重200 克

 EB200/EB005/EB050/EB700附件
 三轴探针夹具
 同轴探针夹具
 磁力底座，磁力翻转底座，真空底座
 软件控制自动化针座
 有源探头
 超声波切割
 低电流/电热点测
 高压点测