用于晶闸管、 整流管等半导体器件的阻断特性测试、门极特性参数VGT、lGT、通态电压测试、维持电流测试,各参数均采用计算机显示, 一键式操作测试精度高,操作便捷,是半导体器件测试的必备设备。
一、概述
DBC-223型半导体器件静态特性综试验台的测试方法符合JB/T7626-2013中的相关标准。
该设备具有如下特点：
1. 该测试系统是一套静态综合的测试系统，综合测试参数多，技术水平较高。
2. 该测试系统是一套大电流、高电压的测试设备，对设备的电气性能要求高。
3. 该系统是一套静态参数的集成测试系统，因此该设备的结构设计较为复杂
4. 该系统的测试控制完全采用自动控制，测试可按测试员设定的程序进行自动测试。
5. 该系统采用计算机记录测试，并可将测试转化为EXCEL文件进行处理，还能实时打印测试结果。
6. 该测试系统是半导体器件检验测试中不可缺少的专用测试设备。
该套测试设备主要由以下几个单元组成：
1) 门极触发参数测试单元
2) 维持电流测试单元
3) 通态电压参数测试
4) 阻断参数测试单元
5) 计算机控制系统
2-2.4 阻断测试
1. 阻断电压（VDRM\VRRM）：200—6000V，分辨率10V，准确度±3%±10V；
分两档：200-999V 分辨率10V，准确度±3%±10V；
1000-6000V 分辨率10V，准确度±3%±10V；
2. 阻断漏电流(IDRM\IRRM)： 1—100mA 精度 ±3%±0.1mA
3.保护漏电流：1-99mA
计算机设定测试时断态/反向峰值电压的保护电压数值及断态/反向峰值电流的保护电流的数值。
4. 测试频率：50HZ；
5. 测试方式：手动测试方式；