光学类测试
半导体激光器芯片全自动COS测试设备
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品牌 互喜
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基本功能:

1. 大小热沉:兼容不同热沉尺寸默认为4.00mm~5.20mm;

2. 二维码录入:设备测试进能对每个wafer上二维码进行扫码识别,并保存在性能测试的数据中;

3. OCR识别:设备测试时能对每个芯片的热沉号进行识别,并保存在性能测试的数据中;

4. 自动上下料:支持2寸或者4寸的wafer,上下料区通过托盘的方式加载wafer,可以快速更换托盘或都wafer;

5. 测试温度可控:TEC温度控制精度控制在0.3度,TEC制冷量80W。每完成一个COS测试,下个测试加电开始前TEC温度必须达到设置温度,***测试重复性;

6. 双工位4治具;双测试工位,每工位可支持两个治具位交替式测试,大大提高测试效率;

7. 加电探针可调压;金属探针设计更加紧凑,两极四针冗余供电,另外探针可准确控制位置,探针压力可调节,适应不同工艺的要求;

8. 自动识别;自动识别芯片上料位置,可实时监控芯片是否掉落,吸嘴设计兼容不同热沉大小。
COS测试设备技术参数

COS测试设备技术参数1

深圳互喜智联科技有限公司拥有多名光电领域技术专家从光路设计、透镜设计等方面与时俱进,底层研究开发,结合二十余年自动化设备技术团队,一起创造出优秀的激光器封装设备矩阵,成为全球领先的半导体激光芯片解决方案供应商,例如:激光器COS共晶贴片设备,单管LD芯片摘料设备,激光器COS外观检测设备,激光器COS测试设备。

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