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SEM/EDS测试

发表于:2017-02-15 作者:863test

扫描电子显微镜+X射线能谱仪(SEM+EDS)

扫描电子显微镜利用二次电子或背散射电子成像,对样品表面放大一定的倍数进行形貌观察,最大放大倍数可达30万倍,同时利用电子激发出样品表面的特征X射线来对微区的成分进行定性定量分析。

测试范围:

SEM的二次电子成像分辨率约3nm

背散射电子成像分辨率约300nm

EDS成分分析的元素范围BeU

分析深度约1μm

检测下限约1%

空间分辨率约1μm

 

服务项目:

各种固体材料的形貌分析

微区化学成分检测

样品成分的线分布和面分布分析

商家资料

深圳市材料分析检测中心

联系人:邓工

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