公司介绍_深圳克拉克贸易有限公司

公司介绍

芯片分析手段汇总（微焦点xray,SAT;DECAP)
芯片分析手段有：
     1   SAT（超声扫描),无损检查:１.材料内部的晶格结构，杂质颗粒．夹杂物．沉淀物．2. 内部裂纹. 3.分层缺陷.4.空洞,气泡,空隙等. 
     2   微焦点XRay  用途：半导体BGA，线路板等内部位移的分析 ；利于判别空焊，虚焊等BGA焊接缺陷 
 　   3  日本UNIOn HISOMET 测量工具显微镜   测量焊球、邦定线高度 Z轴测量误差低于1微米.
     4  BGA LED推拉力测试仪 焊接强度测试仪 采用了AUTO-RANGE技术和VPM垂直定位技术,测试传感器采用自动量程设计,分辨率高达0.0001克.

公司档案

公司名称：	深圳克拉克贸易有限公司	公司类型：	个体经营 (贸易商)
所在地：	中国/广东省	公司规模：	1-49人
注册资本：	未填写	注册年份：	2012

资料认证：

经营模式：

贸易商

经营范围：

TRY(香港）MFM1200推拉力测试仪、TRY（香港）PT1000载带剥离测试仪、芯片激光开盖机（美国）、HISOET（日本）测量显微镜.

销售的产品：

售后技术支持！设备配件供应！维修！

主营行业：

深圳克拉克贸易有限公司

TRY(香港）MFM1200推拉力测试仪、TRY（香港）PT1000载带剥离测试仪、芯片激光开盖...