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    银铜合金C型半导体晶圆测试探针

    产品品牌

    熙之翼

    库       存:

    50000

    产       地:

    中国-湖北省

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    14.00
    交易保障 担保交易 网银支付

    客服电话:4006988696

    品牌:熙之翼

    型号:

    所属系列:半导体测试设备耗材-表面形貌测试耗材-探针

    材质可做:  铜合金,银铜合金,钨合金,SK合金(定制);
    角度可做:110°,120°;
    针杆直径:0.50mm
    针杆总长:19.05mm
    针尖直径:常规5μm,10μm,26μm,可定制其他尺寸针尖直径。

    测试寿命:银铜合金 180万次,钨合金 300万次

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