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    德国Klocke Nanotech纳米级三维测量仪3D Nanofinger

    应用于半导体行业:

    半导体测试设备-其他测试设备类

    产品品牌

    德国Klocke

    库       存:

    1

    产       地:

    全国

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:德国Klocke

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-其他测试设备类

     

    德国Klocke Nanotech纳米级三维测量仪3D Nanofinger

     


     

    纳米级三维测量仪(3D Nanofinger)俗称纳米三坐标,是一种实用的纳米精度坐标和形貌综合测量设备。由台架、控制系统、探头、针尖组成. 可测量样品外形尺寸,表面轮廓、粗糙度等,并可与超精密微加工、微组装系统组合,进行在线检测、质量控制等。系统可以根据样品设定测量路径,测量范围达到厘米级甚至更大。现已广泛应用于超精密机械加工、MEMS器件、半导体微电子加工、光学、分子生物学和精密工程。

     

     

    工作原理:

    · Nanofinger传感器是一个小的MEMS器件,用来监测针尖和样品之间的距离。这个距离小于10nm时,传感器检测到针尖和样品之间的范德华力。此过程针尖跟样品没有接触,即没有任何损伤。

    · Nanofinger的传感器由一个特殊的,带宽为几kHz的高速电子控制系统驱动,闭环控制朝向样品运动,增量为1nm直至达到理想的信号值(如,放大倍数为75%)。这时,位置信息以坐标数据信息存储下来。传感器继续运动,到达下一位置,任何时候,都是1nm增量的闭环控制。同时,在X.Y和Z方向都可以实现厘米的运动行程。

    · 所有运动方向都实现1nm运动分辨率。线扫描后非常容易地获得三维图像。

    应用灵活:

    · 3D-Nanofinger可以作为一个模块,应用到其他系统中。

    · 可以构建成一个独立的纳米级三维测量仪。

    · 可以与Klocke公司的机械臂组合,安装在SEM/FIB系统中,进行三维测量。“实时的图像位置”模块引导Nanofinger轻松到达鼠标点击的SEM图像位置。

    设备主要参数: 

    · 可选行程: 

    X = 20 or 50 mm2 

    Y = 20 or 50 mm2 

    Z = 10 or 20 mm2 

    采用花岗岩基底,XY方向行程扩展为: 100 x 100 mm2 or 350 x 350 mm2 

    · 测量特性: 

    运动分辨率: 1 nm

    针尖分辨率: 0.5 nm

    水平与竖直方向均配有操纵传感器

    线形轮廓测量

    样品内部与外部轮廓测量

    坐标测量功能

    · 测量用探针: 

    针尖型金属丝, 尖端半径 < 100 nm

    钩型金属丝, 尖端半径< 100 nm

    圆形针尖, 直径 0.12-0.3 mm

    金刚石针尖, 如用于表面压痕

    · 软件: 

    针尖自动校准与逼近

    2D 和 3D 图形功能

    工序设置,实现复杂动作自动控制(选项)

    应用图例:

    · 轮廓测量 

    二维和三维轮廓和表面精糙度参数

    TFT LCD显示行业的金字塔结构

    · 外形测量 

    沿内部及外部形状

    1.4 mm直径的内螺纹

    · 尺寸测量 

    确定物体的方位和尺寸

     

    钻床和磨床上使用的刀具刃部的三维图像

     

     

     

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