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    半导体测试 高速分立器件 测试系统 GT系列高速分立器件测试机

    应用于半导体行业:

    半导体测试设备-其他测试设备类

    产品品牌

    星镭

    库       存:

    100

    产       地:

    中国-广东省

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:星镭

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-其他测试设备类

     -适用于测量中小功率三极管、场效应管、二极管等产品及晶圆
    -采用四象限电路,被测器件的良好保护
    -采用悬浮电源和全对称结构
    -高速测试满足UPH60K以上的分选机
    -电压/电流(可选):1300V,650V,30A,3A
    -测试精度0.5%
    -多至四个站,支持一拖二,支持FT、QA测试
    -支持电容测试、LDO等器件测试

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