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    超声扫描显微镜

    应用于半导体行业:

    半导体测试设备-其他测试设备类

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    全国

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    型号:

    所属系列:半导体测试设备-其他测试设备类

     超声扫描显微镜是利用高频的超声波探测物体内的结构、缺陷,以波形、图像显示缺陷的位置、大小和分布状态等,能够及其灵敏地检测不连续性缺陷如分层、气孔、裂纹及夹杂等。

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