网站首页

|EN

当前位置: 首页 » 设备馆 » 半导体测试设备 » 表面、内部检测 » X射线检测仪 »Helmut Fischer X射线光谱仪
    包邮 关注:373

    Helmut Fischer X射线光谱仪

    库       存:

    1

    产       地:

    全国

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-表面、内部检测-X射线检测仪

     特点:
    用途广泛的镀层厚度测量仪,包括金层测厚、银层测厚和化金厚度等。
    通过组合可选的高压和滤片,可以对较薄的镀层(如50 nm Au 或 100 μm Sn)和较厚的镀层进行同样效果的测量.
    配有的微聚焦管,可以测量100 μm大小的微小测量点。
    比例计数器可实现数千cps(每秒计数率)的高计数率。
    从下至上的射线方向,从而可以快速简便的放置样品。
    底部C型开槽的大容量测量舱 
     
    典型应用:
    FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-μ-WAFER专用兼容6、8、12英寸晶圆,移动范围覆盖晶圆150,200,300 mm (6、8、12 英寸) 上 的每一个点 
     •测量极微小平面部件结构,如印制线路板
     • 分析超薄镀层, 如,≤ 0.1 μm 的Au 和Pd 镀层
     • 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
     • 分析复杂的多镀层系统
     • 全自动测量,如在质量控制领域
     

    咨询

    购买之前,如有问题,请向我们咨询

    提问:
     

    应用于半导体行业的相关同类产品:

    服务热线

    4001027270

    功能和特性

    价格和优惠

    微信公众号