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    间歇寿命试验系统(IOL)

    产品品牌

    杭州高坤电子

    库       存:

    1

    产       地:

    中国-浙江省

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:杭州高坤电子

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-寿命测试设备-其他老化设备

           ★符合标准:

    符合MIL-STD-750、GJB128、IEC、AEC-Q101等试验标准要求。

    ★适用范围:

    适用于各种封装形式的二极管、三极管、MOSFET、IGBT等器

    件的间歇寿命试验和稳态寿命试验。

    ★技术特点:

    ①在试验过程中实时测量样品的结温,并显示结温差;

    ②采用模块化设计,每个模块是一个独立试验单元,有独立的

    试验腔体,真正做到板与板之间完全独立,每个试验单元的风

    道互不影响;

    ③在调试模式下,无论是开通状态还是关断状态下,均可以每隔

    一秒采集一次结温Tj,描绘出完整的温度变化曲线,可以防止在

    寻找试验条件时损坏器件;

    ④三极管采用共基极试验线路,更能满足宇航级产品的试验要求;

    ⑤设备可选配K系数测试装置。

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