网站首页

|EN

当前位置: 首页 » 设备馆 » 半导体测试设备 » 光学类测试 » 其他 »光学偏振综合分析仪
    包邮 关注:244

    光学偏振综合分析仪

    应用于半导体行业:

    半导体测试设备-光学类测试-其他

    产品品牌

    苏州光环

    库       存:

    100

    产       地:

    中国-江苏省

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:苏州光环

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-光学类测试-其他

    产品简介:
            美国通用光电公司基于自有的磁光偏振产生和分析技术开发出高级偏振测量系统PSGA,用于精确测量光源及光学材料的偏振相关特性。PSGA101主要针对光纤光学应用,可有效的实现偏振态发生、偏振态分析、偏振消光比测量、偏振相关损耗测量、偏振模色散测量等多项功能。不但可以通过前面板进行操作,而且仪器还带有一个8英寸的超大显示屏,用于进行测量和分析。仪器不仅可以通过内置的可调谐光源进行PDL和PMD的测量,也可通过GPIB接口和其它可调谐光源连接进行大范围的PMD测量。另外,仪器还配备了VGA接口,可以外接显示器。

     

    产品指标:

    工作波长

    1440-1620nm或1280-1340nm

    产生偏振态精度

    ±1°(邦加球上)

    产生偏振态重复性

    ±1°

    斯托克斯矢量精度

    ±0.5%

    DOP测量精度

    ±1%

    PER测量动态范围

    >40dB(输入光功率>-10dBm)

    PER对轴精度

    ±0.2°(1310nm为±0.5°)

    PMD测试范围

    1fs~10ps(内置激光器)

    1fs~400ps(外接激光器)

    PDL测试范围

    0~40dB(输入光功率>-10dBm)

    DGD精度

    ±(1fs+DGD×0.5%)

    1310nm为:±(5fs+DGD×0.5%)

    PDL精度

    ±(0.05dB+PDL×2%)

    SOPMD精度

    ±SOPMD×1%

    DGD分辨率

    1fs

    PDL分辨率

    0.01dB

    SOPMD分辨率

    0.005ps2

    光功率范围

    -40dBm~+2dBm

    内置激光器

    1528~1563nm,光功率精度±0.25dB

    显示

    8英寸翻盖LCD,前面板LCD

    电源

    100~240V,50~60Hz

    外形尺寸

    2U,19寸机箱

     

    产品特性:                                                                     产品应用:
          多个操作模式                                                                    PMD测量
          前面板和自带大LCD屏幕两种显示模式                             PDL测量
          可外接LCD显示屏                                                             偏振态发生(PSG)
          Ethernet接口可远程控制                                                   偏振态分析(PSA)  
          USB接口方便数据存储                                                      偏振消光比(PER)测量
          体积小巧,携带方便                                                          光源DOP测量

    咨询

    购买之前,如有问题,请向我们咨询

    提问:
     

    应用于半导体行业的相关同类产品:

    服务热线

    4001027270

    功能和特性

    价格和优惠

    微信公众号