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产品简介：
采用最大最小搜索法的专利技术，通用光电公司的PDL测量仪能在30ms内，同时测量待测器件的偏振相关损耗（PDL），插入损耗（IL）和光功率。使用扰偏法测量的PDL具有很高的不确定性。与这种方法不同，PolaCHEXTM有条理地搜索最大和最小透过率，确保了具有较高和较低PDL值的器件在任何时刻的测量精度。因此可获得最精确的PDL值。PolaCHEX覆盖了较宽的波长范围：1260~1650 nm，无需波长校准，比基于Mueller矩阵方法测得的PDL值更准确。它带有USB、以太网、GPIB和RS-232接口，用于电脑控制。它能快速、精确测量与波长相关的无源器件的特性，尤其适用于制造或实验室中DWDM、光纤传感元件。与PDL-101相比，PDL-201具有较快的测量速度，较大的测量动态范围，更明亮的显示屏，以及用于集成的附加模拟输出端口。
产品指标：
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工作波长 |
1260~1650nm |
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分辨率 |
0.01dB |
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PDL测量精度 |
±0.01 +5%×PDL dB |
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PDL测量重复性 |
±0.005 +2%×PDL dB |
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PDL动态范围 |
0~45dB |
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IL测量精度 |
±0.01 +5%×IL dB |
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IL测量重复性 |
±0.005 +2%×IL dB |
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IL动态范围 |
0~45dB |
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光功率范围 |
-40~+6dBm |
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光功率不确定性 |
±0.25dB |
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光功率测量校准波长 |
1260~1360nm 或 1440~1620nm |
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测量速度 |
30ms（一次测量，输入光＞-30dBm） |
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工作温度 |
0~50℃ |
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储存温度 |
-20~70℃ |
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显示 |
OLED彩色显示 |
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模拟输出 |
0~4V，或用户设置 |
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电源 |
100~240V交流，50~60Hz |
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接口类型 |
USB、以太网、RS232和GPIB |
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外形尺寸 |
2U， 14”(L)×8.5”(W) ×3.5”(H) |
产品特性： 产品应用：
30 ms的测量速度 PDL与波长测量
较宽的波长范围 DWDM器件特性测试
PDL测量精度高 光纤传感元件特性测试
PDL模拟输出
高亮的OLED屏
