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CTT3280测试系统是以量产功率半导体分立器件为目标的高性能高压大电流测试系统，可适应于功率器件的芯片测试和成品测试。主要测试品种包括MOSFET、三极管、二极管（包括肖特基和稳压管）等功率器件。测试系统主要由TIF模块、CBIT模块、高压VI模块和低压VI模块组成通过测试头连到针卡，实现8工位并测。主要用于实现CP多功位测试。
系统功能：
l 通过PCI卡进行电脑与测试机之间的数据交换
l 采用双层机架，最多可以配26块模块
l 常规配置1个测试头，最多并测8个管芯
l 配有TTL和GPIB接口，可连接所有的探针台和分选机
l 测试机电源由软件控制，具有自我保护功能
l 以填表方式提供用户测试参数设置界面，并提供单项参数调试功能
l 自带数据分析软件
l 支持ACCESS 、EXCEL 、CSV三种数据保存格式
l 支持CP测试，具有MAP显示及多种MAP数据保存功能
