网站首页

|EN

当前位置: 首页 » 设备馆 » 半导体测试设备 » 表面、内部检测 » 表面形貌检测 »FM/060-LP激光平面干涉仪 FM/060-LP
    包邮 关注:628

    FM/060-LP激光平面干涉仪 FM/060-LP

    产品品牌

    MCF

    库       存:

    80

    产       地:

    中国-北京市

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    客服电话:4001027270

    半导体商城认证商家 展开

    热门产品

    被关注36999

    面议

    被关注17215

    面议

    被关注5198

    面议

    被关注4047

    面议

    看了该商品的顾客还看了

    品牌:MCF

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-表面、内部检测-表面形貌检测

    具体设备详情请咨询专业销售:  张经理   18611289629   010-56608810

    型号:FM/060-LP激光平面干涉仪

    原理:斐索干涉仪是一种原理为等厚干涉,用以检测光学元件的面形、光学镜头的波面像差以及光学材料均匀性等的精密仪器。其测量精度一般为1/10~1/100,为检测用光源的平均波长。

    功能:平面光学元件表面面型测量
         
           
    测量方式:斐索干涉原理 

    通光口径:60mm   

    测试波长:635nm(半导体激光器)

    对准方式:简单两点对准      

    对准视场:±0.5度              

    平面标准镜精度:PV:λ/20      


     

                      1.1

    产品特点:

    1.     结构紧凑,小型化;

    2.     防尘效果好;

    3.     具有不损伤被测物品、测试精度高、测量时间短;

    4.     激光干涉仪的光源——激光,具有高强度、高度方向性、空间同调性、窄带宽和高度单色性等优点;

    5.     激光干涉仪可配合各种折射镜、反射镜等来使用;

    6.     激光干涉仪测量范围大、分辨率高等。

    应用范围:科学研究、精密器件加工及光学零件测试等领域的广泛应用。


    咨询

    购买之前,如有问题,请向我们咨询

    提问:
     

    应用于半导体行业的相关同类产品:

    服务热线

    4001027270

    功能和特性

    价格和优惠

    微信公众号