网站首页

|EN

当前位置: 首页 » 设备馆 » 半导体测试设备 » 表面、内部检测 » 表面形貌检测 »FM/150-LP激光平面干涉仪
    包邮 关注:426

    FM/150-LP激光平面干涉仪

    产品品牌

    MCF

    库       存:

    1000

    产       地:

    中国-北京市

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    客服电话:4001027270

    半导体商城认证商家 展开

    热门产品

    被关注36620

    面议

    被关注15633

    面议

    被关注3537

    面议

    被关注2293

    面议

    看了该商品的顾客还看了

    品牌:MCF

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-表面、内部检测-表面形貌检测

    品牌:MCF

    型号:FM/150-LP激光平面干涉仪

    原理:斐索干涉仪是一种原理为等厚干涉,用以检测光学元件的面形、光学镜头的波面像差以及光学材料均匀性等的精密仪器。其测量精度一般为1/101/100,为检测用光源的平均波长。

    功能:平面光学元件的表面面型测量
        光学平行度测量                            


    技术参数

    测量方式:斐索干涉原理 

    通光口径:150mm  

    测试波长:632.8nm(He-Ne激光器)  

    对准方式:简单两点对准     

    对准视场:±0.5    

    平面标准镜精度:PVλ/20   

    尺寸:450*400*800mm     

    重量:约80Kg         


    产品图片:

     

    特点/ Features

    1.   结构紧凑,小型化

    2.   可进行整盘检测

    3.   具有不损伤被测物品、测试精度高、测量时间短;

    4.   激光干涉仪的光源——激光,具有高强度、高度方向性、空间同调性、窄带宽和高度单色性等优点;

    5.   激光干涉仪可配合各种折射镜、反射镜等来使用;

    6.   激光干涉仪测量范围大、分辨率高等。


    应用范围:科学研究、精密器件加工及光学零件测试等领域的广泛应用。


    更多技术资料请联络我们!

     

    咨询

    购买之前,如有问题,请向我们咨询

    提问:
     

    应用于半导体行业的相关同类产品:

    服务热线

    4001027270

    功能和特性

    价格和优惠

    微信公众号