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    奥地利E+E EE355系列 露点仪

    应用于半导体行业:

    半导体器件-其他器件类

    库       存:

    9999

    产       地:

    全国

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
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    品牌:

    型号:

    所属系列:半导体器件-其他器件类

     奥地利E+E EE355系列 露点仪

                           § 多参数:露点/霜点/体积浓度ppm

                           § 量程:-6060℃

                           § 精度:±2℃

                           § 输出:420mAModbus

                           § 配送:DCS74气体采样器

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