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    美国影像测量仪VIEW Pinnacle 250

    应用于半导体行业:

    半导体测试设备-光学类测试-干涉仪

    产品品牌

    VIEW

    库       存:

    100

    产       地:

    中国-广东省

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:VIEW

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-光学类测试-干涉仪


    高产出、高精度尺寸测量仪

     

     

     
    VIEW Pinnacle 250影像测量仪有着F凡的精度和生产率,优yi的MTBF性能,以及在同类型自动测量系统中较低的购置成本。其独特的可编程多色环形灯(PRL)选项运用红、绿、蓝、白LED照明,可轻松应对苛的刻的应用。新型的直性运动控制技术造就了运行速度快和可靠的免维护平台,满足从无尘室到工厂车间的生产环境中,大容量、高性能的操作。
    可选的软件包增强系统的通用性:
    CAD 导入(DXF/IGES) 软件
    形状拟合和分析软件
    离线编程软件
    QC-Calc™ Statistical Process Control (SPC) —实时分析和报告软件
    Elements™ CAD To Measure测量软件
    特征:
    - 测量范围:250 x 150 x100 mm
    - 25公斤承载力
    - 亚微米的光栅尺分辨率
    - X-Y无阻力线性马达驱动,平台速度400 mm/秒
    - Z轴DC伺服回转马达驱动,100 mm/秒
    - 误差映射:在XY平面非线性二维纠错
    - 双重放大光学系统,固定镜头,内部放大1-4倍
    - 可编程LED平台背光及同轴表面光照明
    - 可编程多色环形灯(PRL)选项
    - TTL激光选项,具有自动聚焦和扫描功能
    - SpectraProbeTM 高分辨率彩色传感器选项
    - 好的图像处理性能,快速、精确、稳健
    - 双通道,数字式,1.4兆像素的单色相机; 4:1的比例
    - 次像素精度: 1/10 - 1/50 pixel
    - 独立的Anthro Cart Operator工作站
    - 强大的测量软件和数据分析工具可供选择
    - 平均无故障工作时间 MTBF ≥ 8,000 小时
    Benchmark的应用范围包括:
    半导体/电子
    BGA, μBGA, CSP, 倒装芯片, MCM, bump-on-die
    引线框,引线接合,柔性线路板,连接器
    SMT元件贴装
    锡膏/环氧数脂胶点
    芯片载体和托盒
    喷墨打印机墨盒
    光纤组件和MEMs
    数据存储
    悬置件
    滑块和悬臂组(HGA)
    磁盘介质基板
    精密注塑和机加工件
    模具和刀具
    医疗设备
    燃料喷射部件
    手表组件

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