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    高精度测量系统Pinnacle+Plus

    应用于半导体行业:

    半导体测试设备-光学类测试-其他

    产品品牌

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    发货期限:

    3个月天

    库       存:

    120

    产       地:

    美国

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:VIEW

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-光学类测试-其他


    Pinnacle+ Plus将Pinnacle系列提升到了新的水平. Pinnacle+ Plus的特点是刚性花岗岩光学支撑结构和高性能Z轴运动组件,在微电子零件和组件的测量中获得尽可能低的不确定性。

    最先进的线性运动控制技术提供了最快,最可靠的测量系统,适合从洁净室到生产车间等环境中进行高兼容性操作。

    Pinnacle+Plus使用的是一个或多个VIEW的标准计量软件包:

    ·VIEW Metrology Software (VMS™)是Pinnacle+ Plus上的标准软件,它提供了广泛的标准测量工具以及内置的脚本语言来实现客户自定义功能。

    ·Element 脱机编程软件在Pinnacle+ Plus上是可选的,它提供测量程序中二维CAD文件的自动转换,即使是最复杂的零件也能非常快速地完成程序的编辑。

    Measure-X®测量软件在Pinnacle+ Plus上是可选的,它通过直观的点和点击界面引导用户完成编程。

    P250+

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