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    超大行程VIEW Benchmark™ XLT

    应用于半导体行业:

    半导体测试设备-光学类测试-其他

    产品品牌

    VIEW

    库       存:

    10

    产       地:

    美国

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:VIEW

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-光学类测试-其他


    VIEW Benchmark™ XLT秉承了VIEW的高可靠性为您提供大行程、非接触式、高精度的测量性能。VIEW Benchmark™ XLT是采用测量大型零件或零组件的移动桥式设计。 先进的图像处理允许VIEW Benchmark™ XLT以高速、准确和稳健的方式运行。XLT提供从900毫米x 1500毫米到1500毫米x 2000毫米的测量行程,以应对大型零组的测量,其移动桥式结构提供的开放工作面方便装载和卸载大型零件。

    先进的光学、照明和图像处理使Benchmark XLT成为世界一流的测量系统。Benchmark XLT使用一个或多个VIEW软件包:

    VIEW Metrology Software (VMS™)是Benchmark XLT的标准配置,并提供广泛的标准测量工具以及内置脚本语言以支持自定义功能。

    Elements® CAD-to-Measure测量软件在Benchmark XLT上是可选的,并在测量程序中提供二维CAD文件的自动转换,即使是最复杂的部件也能非常快速地完成从CAD到测量程序的过程。

    ·VMS离线工作站软件在Benchmark XLT上是可选的,允许测量程序在运行的同时,可以在单独的工作站上进行编程。

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