易恩半导体分立器件测试系统_二极管测试仪_电学性能测试_半导体测试设备_设备馆

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系统概述

西安易恩电气 EN-2005B功率器件综合测试系统，设备扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品质范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。

面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果。前面板的小键盘方便了系统操作。通过小键盘，系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。

系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。

应用领域

院所、高校、半导体器件生产厂商、

电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、

新能源汽车、轨道机车检修等

设备用途

测试分析、器件选型、筛选检验、生产线自动批量测试等

技术指标

主极电压: 10mV-2000V

主极电流： 100nA-50A

扩展电流： 100A、500A、1000A、1300A

电压分辨率： 1mV

电流分辨率： 1nA

测试精度： 0.2%+2LSB

测试速度： 0.5mS/参数

系统功耗： <150w

质量： 35KG

尺寸： 450x570x280mm

通信接口： RS232 USB

工作温度： 25-40°C

测试范围

二极管DIODE，晶体管（NPN型/PNP型），J型场效应管J-FET，MOS场效应管 MOS-FET双向可控硅TRIAC，可控硅SCR，绝缘栅双极大功率晶体管IGBT，硅触发可控硅STS

达林顿阵列DARLINTON，光电耦合OPTO-COUPLER，继电器RELAY，稳压、齐纳二极管ZENER三端稳压器REGULATOR，光电开关OPTO-SWITCH，光电逻辑OPTO-LOGIC，金属氧化物压变电阻MOV，固态过压保护器SSOVP，压变电阻VARISTOR，双向触发二极管DIAC

测试参数

漏电参数：IR、 ICBO、 LCEO/S/X、IDSS/X、 IDOFF、 IDRM、 IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、 IR(OPTO)

击穿参数：BVCEO BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、 VD、BVCBO、 VDRM、 VRRM、 VBB、BVR 、 VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、BVGSS、 BVGKO

增益参数：hFE、CTR、gFS

导通参数：VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VTM、VGETH、VSD、IDON、VSAT、IDON、VO(Regulator)、Notch = IGT1、IGT4、ICON、VGEON、、IIN(Regulator)

关断参数：VGSOFF

触发参数：IGT、VGT

保持参数：IH、IH+、IH-

锁定参数：IL、IL+、IL-

混合参数：rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation

间接参数：IL