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    锡膏 银膏检测仪 3D SPI

    应用于半导体行业:

    半导体测试设备-光学类测试-其他

    产品品牌

    PARMI

    规格型号:

    M L

    发货期限:

    2-3个月天

    库       存:

    1

    产       地:

    中国-上海市

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:PARMI

    型号:M L

    所属系列:半导体测试设备-光学类测试-其他

    Carmera System 双镭射光源技术4 mega pixel 高速CMOS 相机
    远心镜头,超清亮模组  
    X-Y Resolution X-Y解析度:10×10  
    Lat eral Length 激光线宽:32mm
    Height Resolution 高度精度:0.1um
    Scan Soeed 扫描速度:60sq.cm/sec
    Height Repe atability 高度重复精度 3 Sigma<1mm on certification target
    Height Accuracy 高度测量精度 2um on certification target
    Inspection Type          检测类型  焊锡高度检测 缺锡等
    PCB Warpage  PCB弯曲补偿  ±5mm(2%)
    Max. Paste height(um) 焊锡测量高度 1000
    Maximum Size PCB板尺寸 50×50mm-480×350mm
    Board Thickness PCB板厚度 0.4-5mm
    Maximum Board Weight PCB板承重 2kg

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