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    JCI-155v6静电衰减分析仪

    应用于半导体行业:

    半导体测试设备-其他测试设备类

    产品品牌

    JCI

    规格型号:

    JCI155V6

    发货期限:

    3天内天

    库       存:

    10000

    产       地:

    中国-广东省

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:JCI

    型号:JCI155V6

    所属系列:半导体测试设备-其他测试设备类

     JCI-155v6静电衰减分析仪
     

    英文名称 Electrostatic Charge Decay Time Analyser
    产品描述 电晕放电法测试静电衰减期
    产品品牌 JCI
    产品产地 英国
    订购货号 JCI155v6
    • 美国国家航空和宇宙航行局(NASA)指定采用产品

    • IEC61340-2-1标准规范的模板设备

    • 可以测试固体,粉体,液体材料的静电衰减时间

    • 同时测试静电衰减时间和电容负载

    • 可直接放置在成型材料上测试

    • 量程:10毫秒-99小时

    • 分辨率:10毫秒

    • 电晕放电电压:0-9.9KV(可以选择正负极性)

    • 衰减比例:可设置1%-99%

    • 同时测量环境温湿度

    • 特别设计气闸效应,消除残留空气离子干扰

    • 高精度静电压测试探头

    • 配套JCI176样品台可测量转移到测试料样上的电量,并计算出电容负载

    • 配套JCI173样品杯可以测量粉体和液体的静电衰减期

    • 配套JCI-Graph软件远端控制仪器,显示数据和衰减曲线,形成报告,分析/打印/储存数据。

     JCI155v6:包含以下物品

    静电衰减分析仪

    JCI176试样台(放置试样,并测试电容负载)

    JCI173试样杯(放置粉体或液体材料)

    测试仪和试样台连接线缆

    接地线

    长USB数据线(用于连接电脑)

    短USB数据线(用于外接U盘)

    配套软件

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