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    光学轮廓仪 3D表面轮廓仪 Sensofar

    产品品牌

    Sensofar

    库       存:

    1000

    产       地:

    全国

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    电话:登录后可以查看

    主营:

    地区:中国-北京市

    地址:北京丰台南三环

    进店逛逛 关注店铺

    品牌:Sensofar

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-表面形貌测试-表面轮廓仪

     

    S-neox 3D光学轮廓仪

     

     

     

     

     

    产品描述

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    全新设计的3D光学轮廓仪S neox颠覆传统,将共聚焦、干涉和多焦面叠加技术融合于一身,测量头内无运动部件。

    主要功能

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    共聚焦

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    共聚焦技术可以用来测量各类样品表面的形貌。它比光学显微镜有更高的横向分辨率,可达0.10um。利用它可实现临界尺寸的测量。当用150倍、0.95数值孔径的镜头时,共聚焦在光滑表面测量斜率达70°(粗糙表面达86°)。专利的共聚焦算法保证Z轴测量重复性在纳米范畴。

    干涉

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    ª 相位差干涉 (PSI)

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    相位差干涉是一种亚纳米级精度的用于测量光滑表面高度形貌的技术。它的优势在于任何放大倍数都可以保证亚纳米级的纵向分辨率。使用2.5倍的镜头就能实现超高纵向分辨率的大视场测量。

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    ª 白光干涉 (VSI)

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    白光干涉是一种纳米级测量精度的用于测量各种表面高度形貌的技术。它的优势在于任何放大倍数都可以保证纳米级的纵向分辨率。

    多焦面叠加

    多焦面叠加技术是用来测量非常粗糙的表面形貌。根据Sensofar在共聚焦和干涉技术融合应用方面的丰富经验,特别设计了此功能来补足低倍共聚焦测量的需要。该技术的最大亮点是快速(mm/s)、扫描范围大和支援斜率大(最大86°)。此功能对工件和模具测量特别有用。

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    ※薄膜测量

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    用分光反射计可以完善地解决薄膜厚度测量。S neox 在增加了分光反射计后可以测量10nm的膜厚和最多10层膜。由于是通过显微镜头测量,最小的测量点为5um。因为系统里有组合的LED光源,所以实时观察和膜厚测量能同时进行。

    测量及分析软件

    SensoSCAN

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    SensoSCAN是一款简洁友好的操作软件。它将引领用户进入3D的世界,提供独一无二的用户体验。在软件界面内,用户可以直观明确地了解所用的测量方式,同时还能显示和分析数据。

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    强大的专业分析软件

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    增配SensoPRO LT SensoMAP软件就能轻易实现全自动测量和分析。  

    物镜及系统参数

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