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    Bruker 光学轮廓仪

    库       存:

    1

    产       地:

    美国

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-表面形貌测试-表面轮廓仪

     布鲁克 (Bruker) 是表面测量和检测技术的全球领导者,服务于科研和生产领域。新一代白光干涉仪ContourGT系列结合了先进的64位多核操作和分析处理软件,专利技术白光干涉仪(WLI)硬件和前所未有的操作简易性,是历年来来最先进的3D光学表面轮廓仪系统。该系统拥有超大视野内亚埃级至毫米级的垂直计量范围,样品安装灵活,且具有业界最高的测量重复性。ContourGT系列是当今生产研究和质量控制应用中,最广泛使用和最直观的3D表面计量平台。

     

    应用:

        对LED行业、太阳能行业、触摸屏行业、半导体行业以及数据存储行业等,提供全方位非接触式测量方案,样品从小至微米级别的微机电器件(MEMS),大到整个引擎部件,都可以获得表面形貌、粗糙度、三维轮廓等精准数据

     

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    提问:
     

    你这个是不是双光源照明的?多少种分析工具?

    peert  2017-08-09

    X向光栅分辨率,零件直径范围多大?

    mund  2017-08-15

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