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    Bruker 台阶仪

    规格型号:

    Dektak XT

    发货期限:

    三个月天

    库       存:

    1

    产       地:

    美国

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:

    型号:Dektak XT

    所属系列:半导体测试设备-表面形貌测试-台阶仪

     布鲁克 (Bruker) 是表面测量和检测技术的全球领导者,服务于科研和生产领域。布鲁克DektakXT (探针式表面轮廓仪)设计创新,实现了更高的重复性和分辨率,垂直高度重复性<5Å。这一里程碑式的产品源自于Dektak系列占据业界领先地位长达四十年的优异表面测量技术,实现了纳米尺度的表面轮廓测量

     

    应用:

    纳米尺度的表面轮廓测量、薄膜厚度测量、表面形貌测量、应力测量和平整度等精密测量,应用于微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触摸屏、医疗、科学研究和材料科学领域

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