网站首页

|EN

当前位置: 首页 » 设备馆 » 半导体测试设备 » 电学性能测试 » 半自动探针台 »半自动探针台(200 mm Semi-Auto Probe Station)
    包邮 关注:2140

    半自动探针台(200 mm Semi-Auto Probe Station)

    产品品牌

    ADVANCED

    库       存:

    50

    产       地:

    台湾

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:ADVANCED

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-电学性能测试-半自动探针台


          半自动探针台(200 mm Semi-Auto Probe Station)

    八英电动移动平台

    X-Y-Z-R移动行程分别为200mm/200mm/30mm/15degree

    X-Y-Z移动精度1um;R:0.01degree

    机台由PC控制,软件可以建立wafer map

    系统可以根据工程人员建立的wafer map自动点针

    系统可以搭配高倍显微镜和体式显微镜两种光学系统

    光学部分搭配100万象素的数字CCD

    系统具有自动校验功能

    咨询

    购买之前,如有问题,请向我们咨询

    提问:
     

    应用于半导体行业的相关同类产品:

    服务热线

    4001027270

    功能和特性

    价格和优惠

    微信公众号