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    非接触式测厚仪

    库       存:

    50

    产       地:

    英国

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-测厚设备-非接触式测厚仪


    非接触式测厚仪


    具体设备详情请咨询专业销售:  400-6988-696 

    非接触式测厚仪介绍:

    是一款高性能高精密的测量仪器,可以不接触样品表面进行厚度测量。这种方式可以避免接触测量引起的表面损伤,特别适用于软脆材料及对样品表面质量高要求的测量.该仪器能非常理想的用于半导体、光学及电光材料厚度的测量应用。

    功能:

    在线实时测量监控、数字显示。

    设备原理:

    采用无污染气脉冲测量法,通过气脉冲,在晶圆表面形成均匀气膜,对被测物进行非接触、无损伤厚度测量,采样速度快精度高,性能稳定,操作简单。

    技术参数:

    测量臂带细调功能

    测量范围:0-180毫米

    厚度范围0~500mm(或可按要求设定范围)

    样品尺寸:8英寸及以下尺寸

    读数精度:0.1um

    测量精度:1um

    适用范围:

    适用于半导体材料的测量,如:磷化铟、碲锌镉、砷化镓、蓝宝石、硅片等,其他材料:陶瓷片、薄膜、高度抛光表面样件等。

     

     


     


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