网站首页

|EN

当前位置: 首页 » 设备馆 » 半导体测试设备 » 测厚设备 » 非接触式测厚仪 »非接触式测厚仪
    包邮 关注:1232

    非接触式测厚仪

    库       存:

    50

    产       地:

    英国

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    客服电话:4001027270

    半导体商城认证商家 展开

    热门产品

    被关注37001

    面议

    被关注17217

    面议

    被关注5199

    面议

    被关注4049

    面议

    看了该商品的顾客还看了

    品牌:

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-测厚设备-非接触式测厚仪


    非接触式测厚仪


    具体设备详情请咨询专业销售:  张经理   18611289629   010-56608810

    非接触式测厚仪介绍:

    是一款高性能高精密的测量仪器,可以不接触样品表面进行厚度测量。这种方式可以避免接触测量引起的表面损伤,特别适用于软脆材料及对样品表面质量高要求的测量.该仪器能非常理想的用于半导体、光学及电光材料厚度的测量应用。

    功能:

    在线实时测量监控、数字显示。

    设备原理:

    采用无污染气脉冲测量法,通过气脉冲,在晶圆表面形成均匀气膜,对被测物进行非接触、无损伤厚度测量,采样速度快精度高,性能稳定,操作简单。

    技术参数:

    测量臂带细调功能

    测量范围:0-180毫米

    厚度范围0~500mm(或可按要求设定范围)

    样品尺寸:8英寸及以下尺寸

    读数精度:0.1um

    测量精度:1um

    适用范围:

    适用于半导体材料的测量,如:磷化铟、碲锌镉、砷化镓、蓝宝石、硅片等,其他材料:陶瓷片、薄膜、高度抛光表面样件等。

     

     


     


    咨询

    购买之前,如有问题,请向我们咨询

    提问:
     

    应用于半导体行业的相关同类产品:

    服务热线

    4001027270

    功能和特性

    价格和优惠

    微信公众号