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    半自动膜厚测量仪

    库       存:

    99

    产       地:

    全国

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-测厚设备-非接触式测厚仪

     

    采用白光共焦技术,分辨率达到纳米级,同时采用了光纤传感器,具有抗干扰、低损耗、安全隔离、高可靠性等优点

    机械精度达到微米级,运行平稳,跳动小,磨损低

    Y向自动测量,重复精度1μm

     

     

     

    规格: 

     

    项目

    技术参数

    项目

    技术参数

    项目

    技术参数

    外观尺寸

    650*500*600mm

    扫描最少步距

    2um

    重量

    100kg

    测量行程

    80mm

    最大扫描速度

    30mm/s

    噪音

    30db

    Z轴可调行程

    50mm

    检测重复精度

    〈1.0um

    工作环境

    温度22±2℃

    有效测量范围

    80mm

    电源

    AC220V±10% 50HZ

    工作环境

    湿度45±5%


    柏先生/18929339897
    Jeff@effecttek.com
    易泛特技术(深圳)有限公司
    深圳市宝安区新桥街道汇聚新桥107创智园B207

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