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    镀层测厚仪是采用X射线荧光光谱分析技术 科冠电子

    产品品牌

    科冠电子

    库       存:

    100

    产       地:

    中国-江苏省

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:科冠电子

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-测厚设备-非接触式测厚仪

    镀层测厚仪是采用X射线荧光光谱分析技术 科冠电子
    产品图片

    分类导图

    我们的镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术,该技术已被普遍认可并且得到广泛应用,可以在无需样品制备的情况下提供易于操作,快速和无损的分析。可分析固体和液体,元素范围包括从元素周期表中的14Si到92U。

    MAXXI 6针对较薄而复杂的样品,具有完美的解决方案。MAXXI 6配备多准直器系统及超大样品舱,是最佳功能性与最高检测精度兼备的理想工具。

    亮点:

    • 采用微聚焦X射线光管,实现高精度,高可靠性,测量时间短,购置成本低
    • 采用高分辨率的硅漂移探测器(SDD),提供能量级别的最佳效率,极低的检出限(LOD)
    • 多准直器可优化不同尺寸样品荧光信号产额,提高测量效率
    • 开槽式超大样品舱设计,十分适合电路板或其他超大平板样品
    • “USB接口 ”只需通过USB与计算机连接,无需额外的硬件或软件
    • 德国制造,符合最高工程标准,坚固耐用的设计可实现长期可靠性
    • 通过PTB(Physikalisch Technische Bundesanstalt)认证,满足最高辐射安全标准
    • 最多同时测定5层,15种元素及共存元素的校正
    • 同时实现多于25种元素的定量分析
    • 检测方法通过ISO3497,ASTM B568,DIN50987和IEC 62321等认证
    • 对ROHS和贵金属进行工厂预装校准(可选)

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