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    手动高低温探针台 HMP-800SC 可测8’’晶圆 HMP-1200SC 可测12’’晶圆

    产品品牌

    上海起南

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    100

    产       地:

    全国

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    品牌:上海起南

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-电学性能测试-手动探针台

    手动高低温探针台
     
    型号:HMP-800SC 可测8’’晶圆
    型号:HMP-1200SC 可测12’’晶圆
     
    此款手动探针台系统针对于新一代半导体装置设计,非常低的噪音和低的漏电流。在这个系统中,屏蔽的样品腔包含探针和样品台全部都在EMI屏蔽环境中。此系统支持超低信号测试,1/f噪音测试,S参量测试,和高速I-V测试在控温变温环境中从-60℃到300℃(或者特殊环境到400℃)
    此探针台系统可选支持高电流和高电压功率测试。
    HMP-610SC 6’’晶圆可选。
     
    应用:
    温度范围:室温到300℃或-60℃到300
    超低信号I-V测量(fA级)
    各种C-V测量(准静态C-V, HF-CVRF-CV[sub pF]
    1/f噪音评估
    RTN(自由电子噪音)评估
    高频噪音评估(到800MHz
    RF测量(到67GHz/S 参数测量
    超高速I-V测量
    扩展应用:
    支持探卡(支持多点位晶圆可靠性测试WLR
    光电子中光接收/发散特性评估应用(如:LEDLDVCSELPD
    高功率元器件测量(200A脉冲,+/-3kV三轴,+/-10kV同轴)
    晶圆的可靠性测试(如:EMTDDBHCINBTIBT

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