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    Semishare FA系列失效分析探针台

    产品品牌

    semishare(森美协尔)

    规格型号:

    FA-8/FA-8-SC

    发货期限:

    面谈天

    库       存:

    10

    产       地:

    中国

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    面议
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:semishare(森美协尔)

    型号:FA-8/FA-8-SC

    所属系列:半导体测试设备-电学性能测试-手动探针台

    详情请咨询赵经理 15323433820

    应用方向:常温和高低温环境下的芯片失效分析

    特点
    失效分析实验室专用
    大手柄驱动,操作舒适,无回程差设计,定位准确
    可做LC液晶热点侦测
    激光最小可加工精度1*1um
    激光可选择性去除特定材料而不损伤下层
    芯片内部线路/电极/PAD测试
    适用于IC/面板内部线路修改/去层 射频特性器件失效分析
    可升级用于12英寸以内样品测试
    材料/器件的IV/CV特性测试及失效分析 

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