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    台阶仪/3D表面轮廓仪/白光干涉仪 美国芦华

    应用于半导体行业:

    半导体测试设备-表面形貌测试-其他

    产品品牌

    美国芦华

    库       存:

    100

    产       地:

    美国

    数       量:

    减少 增加

    价       格:

    10000.00
    交易保障 担保交易 网银支付

    品牌:美国芦华

    型号:

    所属系列:半导体测试设备-表面形貌测试-其他

    台阶仪/3D表面轮廓仪/白光干涉仪 美国芦华
    NanoMap Series 3D Surface Profilometer

    美国AEP(AEP Technology, Inc.)

    NanoMap-D 双模式三维表面轮廓仪(台阶仪)
    世上第一台,也是唯一同时具备探针式扫描和白光干涉扫描功能的轮廓仪。既方便分析各种材料、器件、工具等的表面形貌,又节省了宝贵的空间、费用。有些表面不适合探针测量,因为容易损伤样品;有些表面不适合干涉仪,因为相邻材料光学性质差异太大。这台设备以强有力的竞争为您提供两种选择。
    3D接触式探针扫描(contact profiler) 台阶重复率 5A
    fine模式Z高度范围 5μm
    coarse模式Z高度范围 500μm(可选1.5mm)
    Tip Scan模式(XY) 最大50μm
    Stage Scan模式(XY) 最大150mm(可选200mm等)
    探针压力 0.03-100mg
    样品台 150*150mm(可选200*200mm等)
    3D非接触光学扫描(optical profiler) 台阶重复率 1A
    CCD分辨率 1024*1024/1536*1536/1920*1920
    物镜 2.5x/5x/10x/20x/50x/100x
    样品反光率 0.4-100%
    最大样品厚度 50mm( 可选100mm)
    样品台旋转 360度
    样品台倾斜 4度
    应力分析  

     

     

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    可测零件直径范围多大?X向光栅是进口 的还是国产的?

    mund  2017-08-15

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