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半导体测试设备耗材

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包邮关注:3088

晶圆表面平整度测试仪

应用于半导体行业：

半导体测试设备-表面形貌测试

产品品牌

CRYSTAPOL

库存：

产地：

英国

数量：

价格：

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客服电话：4001027270

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商品详情
商品参数
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装箱清单
售后保障

品牌：CRYSTAPOL

型号：

所属系列：半导体测试设备-表面形貌测试

用途：用来测量晶圆表面的平整度

主要性能指标 Main performance index

序号	性能指标
1	可测试样品尺寸：直径 ≤152mm Test sample size: diameter less than 152mm
2	电源：220V, 50HZ Power supply: 220V, 50HZ
3	激光源：670nm Laser source: 670nm
4	基准滤镜平整度：λ/10 Reference: lambda /10 flatness filter
5	配置15寸液晶显示器 With LED display
6	设备尺寸：605mm x 400mm x 500mm (L x H x W) Size：605mm x 400mm x 500mm (L x H x W)